特許
J-GLOBAL ID：202003006794063267

学習装置、学習方法、及びプログラム

発明者：
鶴谷 泰介

鶴谷 泰介 について

, 
倉知 大祐

倉知 大祐 について


出願人/特許権者：
本田技研工業株式会社

本田技研工業株式会社 について


代理人 (4件)： 田▲崎▼ 聡 ,  鈴木 慎吾 ,  酒井 太一 ,  渡辺 伸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-203208
公開番号（公開出願番号）：特開2020-071070
出願日： 2018年10月29日
公開日（公表日）： 2020年05月07日
要約：
【課題】二次電池の劣化状態の学習機会をある程度確保することができる学習装置、学習方法、及びプログラムを提供すること。【解決手段】車両(10)の走行のための電力を供給する二次電池(40)の充電又は放電の少なくとも一方を示す充放電データに基づいて前記二次電池の容量学習を行う学習部(125)であって、前記充放電データが示す充電率の変化量が閾値を超える場合に前記容量学習を行う学習部(125)と、所定期間において前記学習部が前記容量学習を行った回数をカウントし、前記回数に基づいて前記閾値を決定する閾値決定部(123)と、を備える学習装置。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
車両の走行のための電力を供給する二次電池の充電又は放電の少なくとも一方を示す充放電データに基づいて前記二次電池の容量学習を行う学習部であって、前記充放電データが示す充電率の変化量が閾値を超える場合に前記容量学習を行う学習部と、 所定期間において前記学習部が前記容量学習を行った履歴情報に基づいて前記閾値を決定する閾値決定部と、 を備える学習装置。
IPC (4件)：
G01R 31/36 ,  H02J 7/00 ,  H01M 10/48 ,  H01M 10/42
FI (6件)：
G01R31/36 A ,  H02J7/00 Q ,  H02J7/00 P ,  H02J7/00 Y ,  H01M10/48 P ,  H01M10/42 P
Fターム (24件)：
2G216AB01 ,  2G216BA22 ,  2G216BA65 ,  2G216CB34 ,  2G216CB35 ,  2G216CB51 ,  2G216CB55 ,  2G216CD03 ,  5G503AA01 ,  5G503BA01 ,  5G503BB02 ,  5G503CA01 ,  5G503CA08 ,  5G503CA11 ,  5G503CB11 ,  5G503EA08 ,  5G503EA09 ,  5G503FA06 ,  5H030AA01 ,  5H030AS06 ,  5H030AS08 ,  5H030FF42 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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