特許
J-GLOBAL ID：202003006824309428
観測方法および観測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
速水 進治
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-551896
特許番号：特許第6745509号
出願日： 2016年11月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 コイルにパルス電流を流す、または、前記コイルに複数の周波数の電流を順に流すことにより発生する第1の磁場を、対象物に印加する印加ステップと、
前記対象物に前記第1の磁場を加えたことによって発生する第2の磁場を、検出する検出ステップと、
前記第2の磁場における磁場の湧き出しmの分布を算出する算出ステップとを含み、
前記磁場の湧き出しmは、以下の(式A)を満たす観測方法。
ここで、σは前記対象物の導電率、ωは前記パルス電流をフーリエ変換して得られる複数の周波数成分または前記複数の周波数の電流における、周波数の角周波数、μは前記対象物の透磁率、H0は前記第1の磁場、jeは前記第1の磁場を打ち消す方向に生じる渦電流の電流密度、tは時間、zは前記対象物の深さ方向の座標、xおよびyは前記深さ方向に垂直な面内の直交する2方向の各座標である。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
前のページに戻る
