特許
J-GLOBAL ID：202003007615809827
光断層撮像装置、光断層撮像装置の作動方法、及びプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
岡部 讓
, 越智 隆夫
, 吉澤 弘司
, 齋藤 正巳
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-095586
公開番号（公開出願番号）：特開2017-202109
特許番号：特許第6775995号
出願日： 2016年05月11日
公開日（公表日）： 2017年11月16日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 光源から射出された光より分割された測定光が照射された被検体からの戻り光と、前記射出された光より分割された参照光とを合波して得た干渉光より得られる断層情報に基づいて、断層画像を生成する画像生成手段と、
前記測定光を前記被検体に導くための測定光学系を駆動する駆動手段と、
前記測定光学系を構成する少なくとも1つの光学素子で反射した反射光と前記参照光との干渉により生じるゴーストが現れていない状態の被検体像を含む断層画像が得られるように、少なくとも前記駆動手段を前記断層情報に基づいて制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする光断層撮像装置。
IPC (2件)：
A61B 3/10 ( 200 6.01)
, G01N 21/17 ( 200 6.01)
A61B 3/10 100
, G01N 21/17 630
