特許
J-GLOBAL ID：202003008254110625
水素脆性評価装置および水素脆性評価方法ならびにそれに用いられる試験片
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人ブライタス
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-243898
公開番号（公開出願番号）：特開2017-223639
特許番号：特許第6724761号
出願日： 2016年12月16日
公開日（公表日）： 2017年12月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 固定端から自由端に向かって一方向に延びる微小片持ち梁が形成された試験片の水素脆化特性を評価する装置であって、
前記試験片は、前記微小片持ち梁の前記固定端と前記自由端との間を通り、かつ、前記一方向に略垂直なミクロ組織界面を少なくとも1つ有し、
前記微小片持ち梁は、前記ミクロ組織界面のうちの1つより自由端側に、前記1つのミクロ組織界面側を向く係止面を有し、
前記微小片持ち梁を電解液に浸漬する電解液槽と、
前記電解液に浸漬される対極と、
前記試験片と前記対極との間に電位差を生じさせる外部電源と、
前記係止面に対して、前記一方向と略平行な方向に荷重を負荷する探針と、
前記探針の変位および荷重を測定する測定部と、を備える、
水素脆性評価装置。
IPC (2件)：
G01N 3/00 ( 200 6.01)
, G01N 17/00 ( 200 6.01)
