特許
J-GLOBAL ID:202003008319461897
データ記録システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
折坂 茂樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-198277
公開番号(公開出願番号):特開2020-067691
出願日: 2018年10月22日
公開日(公表日): 2020年04月30日
要約:
【課題】複数の対象物について作業を行う際に、対象物の個体の情報と作業結果とを紐付けて簡単に記録できるデータ記録システムを提供すること。【解決手段】本発明の一態様は、複数の対象物に対する作業を行う作業者の動作を取得する動作取得手段と、動作取得手段が取得した動作を解析して、少なくとも作業者が作業を行っている対象物の個体を識別する動作解析手段と、動作解析手段が識別した対象物の個体について情報を記録する記録手段と、を備えるデータ記録システムである。【選択図】図1
請求項(抜粋):
複数の対象物に対する作業を行う作業者の動作を取得する動作取得手段と、
前記動作取得手段が取得した動作を解析して、少なくとも前記作業者が作業を行っている前記対象物の個体を識別する動作解析手段と、
前記動作解析手段が識別した前記対象物の個体について情報を記録する記録手段と、
を備えるデータ記録システム。
IPC (3件):
G05B 19/418
, G06T 7/20
, G06Q 50/04
FI (3件):
G05B19/418 Z
, G06T7/20 300A
, G06Q50/04
Fターム (15件):
3C100AA29
, 3C100AA59
, 3C100BB15
, 3C100BB17
, 3C100BB34
, 3C100CC02
, 3C100DD06
, 3C100DD22
, 3C100DD33
, 5L049CC04
, 5L096CA04
, 5L096DA02
, 5L096FA69
, 5L096HA02
, 5L096HA09
引用特許:
出願人引用 (8件)
-
組立品検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-071873
出願人:三菱電機株式会社
-
IC試験システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-116170
出願人:株式会社アドバンテスト
-
画像測定装置及び方法並びに媒体
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-161433
出願人:株式会社ミツトヨ
全件表示
審査官引用 (2件)
-
組立品検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-071873
出願人:三菱電機株式会社
-
IC試験システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-116170
出願人:株式会社アドバンテスト
前のページに戻る