特許

J-GLOBAL ID：202003008899876967

光ファイバ式計測装置及び光ファイバ式計測方法

発明者： 深野 秀樹 ,  田上 周路
出願人/特許権者： 国立大学法人 岡山大学
代理人 (1件)： 特許業務法人矢野内外国特許事務所
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2018013667
公開番号（公開出願番号）：WO2019-073623
出願日： 2018年03月30日
公開日（公表日）： 2019年04月18日
要約：

より小さな領域の計測に利用できる光ファイバ式計測装置及び光ファイバ式計測方法を提供する。 光源と、この光源に一方端を接続した入射用光ファイバ10と、この入射用光ファイバ10の他方端に接続した導光体40と、この導光体40に一端を接続して他方端を検出器に接続した出射用光ファイバ50とを備えた光ファイバ式計測装置において、導光体40は、入射用光ファイバ10のコア10a及び出射用光ファイバ50のコア50aよりも細径のコア20aを有する光ファイバとする。

請求項（抜粋）：

光源と、 この光源に一方端を接続した入射用光ファイバと、 この入射用光ファイバの他方端に接続した導光体と、 この導光体に一端を接続して他方端を検出器に接続した出射用光ファイバと を備え、前記導光体をセンサ体としている光ファイバ式計測装置において、 前記導光体は、前記入射用光ファイバのコア及び前記出射用光ファイバのコアよりも細径のコアを有する光ファイバである光ファイバ式計測装置。

IPC (1件)：

G01N 21/41

FI (1件)：

G01N21/41 Z

Fターム (8件)：

2G059AA01 ,  2G059AA02 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059EE12 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ17