特許

J-GLOBAL ID：202003010143295418

三次元測定装置及び三次元モデルの位置合わせ方法

発明者： 田中 俊輔
出願人/特許権者： 株式会社キーエンス
代理人 (1件)： 大槻 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-140283
公開番号（公開出願番号）：特開2020-016570
出願日： 2018年07月26日
公開日（公表日）： 2020年01月30日
要約：

【課題】 三次元測定装置において測定対象物に対する三次元モデルの位置合わせ処理を効率的に行うことを目的とする。【解決手段】 測定対象物Sに対応する三次元モデルを受け付ける三次元モデル受付部501と、プローブ110を用いて測定対象物S上の位置を指示することにより、測定点の座標を取得する座標測定部511と、2以上の測定点を参照点として順に登録する参照点登録部512と、参照点が新たに登録されるごとに、登録された参照点に対する三次元モデルのフィッティング処理を行うフィッティング処理部515と、フィッティング後の三次元モデル及び登録された参照点を表示し、フィッティングが行われるごとに表示を更新する表示処理部516とを備える。【選択図】 図9

請求項（抜粋）：

測定対象物に対応する三次元モデルを受け付ける三次元モデル受付部と、 プローブを用いて前記測定対象物上の位置を指示することにより、測定点の座標を取得する座標測定部と、 2以上の前記測定点を参照点として順に登録する参照点登録部と、 前記参照点が新たに登録されるごとに、登録された前記参照点に対する前記三次元モデルのフィッティング処理を行うフィッティング処理部と、 フィッティング後の前記三次元モデル及び登録された前記参照点を表示し、フィッティングが行われるごとに表示を更新する表示処理部とを備えたことを特徴とする三次元測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G01B 5/008 ,  G01B 21/00

FI (3件)：

G01B11/00 H ,  G01B5/008 ,  G01B21/00 P

Fターム (38件)：

2F062AA04 ,  2F062BB20 ,  2F062CC25 ,  2F062CC27 ,  2F062DD03 ,  2F062DD35 ,  2F062EE01 ,  2F062EE41 ,  2F062EE62 ,  2F062HH01 ,  2F062HH29 ,  2F062JJ06 ,  2F062LL07 ,  2F065AA04 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF22 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065RR08 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  2F069AA04 ,  2F069AA31 ,  2F069AA66 ,  2F069AA71 ,  2F069DD15 ,  2F069EE07 ,  2F069GG01 ,  2F069GG07 ,  2F069GG75 ,  2F069LL02 ,  2F069NN09 ,  2F069NN13 ,  2F069NN26 ,  2F069QQ05 ,  2F069QQ07