特許
J-GLOBAL ID：202003010971252064

光画像計測装置、光画像計測方法

発明者：
大澤 賢太郎

大澤 賢太郎 について


出願人/特許権者：
株式会社日立エルジーデータストレージ

株式会社日立エルジーデータストレージ について


代理人 (3件)： 平木 祐輔 ,  藤田 節 ,  渡辺 敏章
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-210709
公開番号（公開出願番号）：特開2018-072111
特許番号：特許第6720051号
出願日： 2016年10月27日
公開日（公表日）： 2018年05月10日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 光を出射する光源、 前記光源が出射する光を用いて第1偏光状態の第1測定光と第2偏光状態の第2測定光を照射する光照射部、 前記第1測定光を測定対象に対して照射する時刻を第1時刻に調整するとともに、前記第2測定光を前記測定対象に対して照射する時刻を前記第1時刻とは異なる第2時刻に調整する、照射時刻制御部、 前記第1および第2測定光が前記測定対象によって反射もしくは散乱されることにより得られる第1および第2信号光を検出して電気信号として出力する光検出部、 を備え、 前記光照射部は、前記第1偏光状態とは異なる前記第2偏光状態の光を生成するパッシブ光学素子を用いて、前記第2測定光を生成し、 前記光源は、第1および第2光源を備え、 前記光照射部は、前記第1光源が出射する光を前記第1測定光として前記測定対象に対して照射するとともに、前記第2光源が出射する光を前記第2測定光として前記測定対象に対して照射し、 前記照射時刻制御部は、前記第1光源が光を出射する時刻と前記第2光源が光を出射する時刻を制御することにより、前記第1および第2時刻を調整する ことを特徴とする光画像計測装置。
IPC (3件)：
G01N 21/23 ( 200 6.01) ,  A61B 3/10 ( 200 6.01) ,  G01N 21/17 ( 200 6.01)
FI (3件)：
G01N 21/23 ,  A61B 3/10 100 ,  G01N 21/17 630
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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