特許
J-GLOBAL ID:202003011333617450

スキャナ装置および測量装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 八木 秀人 ,  太田 悠 ,  川野 由希
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-183592
公開番号(公開出願番号):特開2018-048867
特許番号:特許第6749191号
出願日: 2016年09月21日
公開日(公表日): 2018年03月29日
請求項(抜粋):
【請求項1】 所定時間毎に測距光をパルス発光しターゲットに反射した測距光を受光して測距する測距部と、少なくとも一軸回転軸周りに前記測距光を走査するための回動部と、前記回動部の回転角度を検出する角度検出部と、を備えるスキャナ装置であって、 前記スキャナ装置は、 前記測距光を走査し、前記測距光のパルス発光と発光の間は、前記ターゲットを検出するために連続的に点灯させたターゲット検出光を送光し、受光した前記ターゲット検出光の受光光量から前記ターゲットの概略位置を検出し、 前記概略位置に対して再度前記測距光を走査して、前記ターゲットを測定する ことを特徴とするスキャナ装置。
IPC (3件):
G01C 15/00 ( 200 6.01) ,  G01C 3/06 ( 200 6.01) ,  G01S 17/89 ( 202 0.01)
FI (3件):
G01C 15/00 103 A ,  G01C 3/06 140 ,  G01S 17/89
引用特許:
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る