特許

J-GLOBAL ID：202003011826149448

コイル試験装置

発明者： 北澤 正美 ,  山口 力
出願人/特許権者： 日置電機株式会社
代理人 (1件)： 酒井 伸司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-094726
公開番号（公開出願番号）：特開2017-203662
特許番号：特許第6752617号
出願日： 2016年05月10日
公開日（公表日）： 2017年11月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】試験対象のコイルに並列接続されるコンデンサ回路と、インパルス電圧信号を発生させて前記コイルおよび前記コンデンサ回路に供給するインパルス電圧発生部と、前記インパルス電圧信号の供給によって前記コイルの両端間に発生する減衰振動電圧の信号波形を測定する測定部と、前記信号波形をサンプリングして当該信号波形の瞬時値を示す波形データに変換するA/D変換部と、前記波形データに基づいて前記コイルを試験するコイル試験処理を実行する処理部とを備え、 前記コンデンサ回路は、容量可変型に構成され、 前記処理部は、インダクタンスが異なる複数種類のコイルのうちの前記試験対象として前記コンデンサ回路に接続されている前記コイルの種類を前記波形データに基づいて特定すると共に、当該特定したコイルの種類に対応させて前記コンデンサ回路の容量値を変更するコイル特定処理を実行し、当該コイルおよび容量値の変更後の当該コンデンサ回路に前記インパルス電圧信号を供給した際に発生する前記減衰振動電圧の前記信号波形についての前記波形データに基づいて前記コイル試験処理を実行するコイル試験装置。

IPC (3件)：

G01R 31/12 ( 202 0.01) ,  G01R 31/72 ( 202 0.01) ,  G01R 31/00 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01R 31/12 Z ,  G01R 31/72 ,  G01R 31/00

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭60-008760
  
• 特開昭61-162755