特許

J-GLOBAL ID：202003012041976588

励起光照射装置および励起光照射方法

発明者： 橋本 将輝 ,  芳井 義治
出願人/特許権者： スミダコーポレーション株式会社
代理人 (1件)： 青木 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-244101
公開番号（公開出願番号）：特開2020-106352
出願日： 2018年12月27日
公開日（公表日）： 2020年07月09日
要約：

【課題】 基材内のカラーセンタの発する光に基づく測定を正確に行えるようにする励起光照射装置および励起光照射方法を得る。【解決手段】 この励起光照射装置は、励起光で励起されるカラーセンタ1aを含む基材1を備える。その基材1は、(a)互いに対向する2つの反射面11,12と、互いに対抗する2つの端面13,14とを備え、(b)その2つの反射面11,12で反射させつつその2つの端面13,14のうちの一方の端面側13から他方の端面側14へ、基材1に入射した励起光を進行させる。そして、他方の端面14は、励起光を反射させ、その2つの反射面11,12のいずれかから出射させるように傾斜している。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

励起光で励起されるカラーセンタを含む基材を備え、 前記基材は、(a)互いに対向する2つの反射面と、互いに対抗する2つの端面とを備え、(b)前記2つの反射面で反射させつつ前記2つの端面のうちの一方の端面側から他方の端面側へ、前記基材に入射した前記励起光を進行させ、 前記他方の端面は、前記励起光を反射させ、前記2つの反射面のいずれかから出射させるように傾斜していること、 を特徴とする励起光照射装置。

IPC (1件)：

G01N 24/00

FI (1件)：

G01N24/00 P

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 試料分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-038505   出願人：スペクトラ-テックインコーポレイテッド
• 磁気計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2016-026993   出願人：ルネサスエレクトロニクス株式会社

審査官引用 (2件)

• 試料分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-038505   出願人：スペクトラ-テックインコーポレイテッド
• 磁気計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2016-026993   出願人：ルネサスエレクトロニクス株式会社