特許
J-GLOBAL ID：202003014220753519
水素拡散係数の非破壊測定のための装置および方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
村山 靖彦
, 実広 信哉
, 阿部 達彦
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-557751
公開番号（公開出願番号）：特表2020-517948
出願日： 2018年04月25日
公開日（公表日）： 2020年06月18日
要約：
金属構造体の水素拡散係数を測定する方法が提供される。方法は、その構造体の外部表面上の第1の位置に水素充填表面と、その構造体の外部表面上の第1の位置に隣接する第2の位置に水素酸化表面とを設けることを含む。充填表面において、水素流束が発生し、金属表面の中に向けられる。充填表面によって発生し、その表面へ逸らされて戻る水素流束の少なくとも一部が検出され、逸らされた水素流束の過渡時間が測定される。次に、測定された過渡時間に基づき、金属構造体の水素拡散係数が決定される。
請求項（抜粋）：
金属構造体の水素拡散係数を測定する方法であって、
前記構造体の外部表面上の第1の位置に水素充填表面を設けることと、
前記構造体の前記外部表面上の前記第1の位置に隣接する第2の位置に水素酸化表面を設けることと、
前記充填表面において、金属表面の中に向けられる水素流束を発生させることと、
前記充填表面によって発生し、前記表面へ逸らされて戻る前記水素流束の少なくとも一部を検出することと、
前記逸らされた水素流束の過渡時間を測定することと、
前記測定された過渡時間に基づき、前記金属構造体の前記水素拡散係数を決定することと、を含む、方法。
IPC (3件)：
G01N 17/00
, G01N 27/26
, G01N 27/416
G01N17/00
, G01N27/26 351C
, G01N27/416 302M
2G050AA01
, 2G050BA04
, 2G050CA04
, 2G050EB03
