特許
J-GLOBAL ID：202003014712773930
物理量検出装置、物理量検出プログラム、物理量検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
アインゼル・フェリックス=ラインハルト
, 前川 純一
, 二宮 浩康
, 上島 類
, 住吉 秀一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-209153
公開番号（公開出願番号）：特開2020-076610
出願日： 2018年11月06日
公開日（公表日）： 2020年05月21日
要約：
【課題】簡易な構成により実現可能な物理量検出技術を提供する。【解決手段】物理量検出装置10は、波長が異なる複数の出力光を出力可能な光源部11と、光源部11の出力及び出力光の波長を制御する発光制御部及び反射光の波長と強度との関係を示す分布波形に基づいて所望の物理量を測定する信号処理部として機能する制御部12と、出力光の反射光を受光して反射光の強度を測定する反射光測定部13とを備え、信号処理部は、少なくとも1組の出力光の波長の情報及び反射光の波長と強度との測定情報に基づいて、反射光の複数の波長ごとの強度との関係を示す分布波形を特定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
波長が異なる複数の出力光を出力可能な光源部と、
前記光源部の出力及び前記出力光の波長を制御する発光制御部と、
前記出力光の反射光を受光して前記反射光の強度を測定する反射光測定部と、
前記反射光の波長と強度との関係を示す分布波形に基づいて所望の物理量を測定する信号処理部と、
を備え、
前記信号処理部は、
少なくとも1組の前記反射光の波長の情報と強度の測定情報とに基づいて、前記反射光の波長と反射率との関係を示す分布波形を特定する、
物理量検出装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
2G059AA03
, 2G059AA05
, 2G059BB04
, 2G059EE02
, 2G059EE11
, 2G059JJ05
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
, 2G059MM10
, 2G059PP06
