特許
J-GLOBAL ID：202003015397548032
蛍光X線分析用試料を用いた評価方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
小池 晃
, 河野 貴明
, 村上 浩之
, 伊賀 誠司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-231219
公開番号（公開出願番号）：特開2017-116534
特許番号：特許第6760018号
出願日： 2016年11月29日
公開日（公表日）： 2017年06月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】クロマイト又は蛇紋石を含むニッケル酸化鉱石の鉱石スラリーから蛍光X線分析用の試料を調製して評価する蛍光X線分析用試料を用いた評価方法であって、
上記ニッケル酸化鉱石の鉱石スラリーを乾燥させる乾燥工程と、
乾燥させた上記ニッケル酸化鉱石の鉱石スラリーの固形分を粉砕し、粗粉末を得る粗粉砕工程と、
上記粗粉末を粉砕機により粉砕することで、粒度分布がD90≦80μm、D50≦30μmとなる微粉末を得る微粉砕工程と、
上記ニッケル酸化鉱石中の金属成分の含有量を算出して評価するための検量線を検量線用の試料を用いて作成する検量線作成工程と、
上記微粉砕工程後の上記微粉末を収納した試料カップを、平板状になるように加圧・成形し、ブリケットを得る成形工程とを有し、
上記検量線作成工程では、上記検量線用の試料を上記粉砕機で粉砕し、粉砕時間を上記微粉砕工程における粉砕時間と同じにすることを特徴とする蛍光X線分析用試料を用いた評価方法。
IPC (5件)：
G01N 23/2202 ( 201 8.01)
, G01N 23/223 ( 200 6.01)
, G01N 1/28 ( 200 6.01)
, G01N 1/36 ( 200 6.01)
, G01N 1/00 ( 200 6.01)
G01N 23/220
, G01N 23/223
, G01N 1/28 T
, G01N 1/36
, G01N 1/00 102 B
