特許
J-GLOBAL ID：202003016497435452

光計測装置、光計測方法及び回転機械

発明者：
大西 智之

大西 智之 について

, 
近藤 明生

近藤 明生 について


出願人/特許権者：
三菱重工業株式会社

三菱重工業株式会社 について


代理人 (4件)： 藤田 考晴 ,  三苫 貴織 ,  川上 美紀 ,  長田 大輔
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-047845
公開番号（公開出願番号）：特開2017-161432
特許番号：特許第6685779号
出願日： 2016年03月11日
公開日（公表日）： 2017年09月14日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 光を出力すると共に当該光の発光波長を変更可能な波長可変光源と、 前記波長可変光源から出力された前記光を回転体に照射する第1の光ファイバと、 前記回転体に凹設された楕円面又は放物面からなり、前記第1の光ファイバから照射された前記光を反射する凹面と、 前記凹面により反射された前記光を受光する第2の光ファイバと、 前記第2の光ファイバで受光した前記光の強度を検出する強度検出手段と、 前記波長可変光源を制御すると共に、前記強度検出手段で検出した前記強度に基づいて、光計測を行う制御手段とを有し、 前記制御手段は、 前記波長可変光源の前記発光波長を変更させながら、前記強度検出手段により前記強度を検出して、前記強度が最大となる前記発光波長を選択し、 選択した前記発光波長による出射角度の前記光を用いて、前記凹面により反射された前記光の前記強度を検出して、前記光計測を行う ことを特徴とする光計測装置。
IPC (2件)：
G01H 9/00 ( 200 6.01) ,  G01B 11/00 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G01H 9/00 B ,  G01B 11/00 Z
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (6件)
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