特許
J-GLOBAL ID:202003017386551670

撮像装置、画素欠陥補正装置および画素欠陥補正方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 松浦 孝 ,  小倉 洋樹
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-067959
公開番号(公開出願番号):特開2017-183998
特許番号:特許第6705252号
出願日: 2016年03月30日
公開日(公表日): 2017年10月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】 複数の光電変換部を2次元配列させた複数の光電変換層を積層させた撮像素子と、 前記複数の光電変換層において欠陥のある光電変換部から出力される画素信号を、同一画素に含まれる他の光電変換層の欠陥のない光電変換部から出力される画素信号と、その周囲の光電変換部から出力される画素信号との相関に基づいて、補正する補正部とを備え、 前記補正部が、前記周囲の光電変換部の中で、前記欠陥のない光電変換部と最も相関関係の強い位置にある光電変換部から出力される画素信号に基づいて、補正を行うことを特徴とする撮像装置。
IPC (4件):
H04N 5/367 ( 201 1.01) ,  H04N 5/369 ( 201 1.01) ,  H01L 27/146 ( 200 6.01) ,  H04N 9/09 ( 200 6.01)
FI (4件):
H04N 5/367 ,  H04N 5/369 ,  H01L 27/146 E ,  H04N 9/09 A
引用特許:
審査官引用 (2件)

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