特許

J-GLOBAL ID：202003018129537019

異常検出装置と異常検出方法およびプログラムと測距装置

発明者： 大木 光晴
出願人/特許権者： ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
代理人 (5件)： 宮田 正昭 ,  山田 英治 ,  佐々木 榮二 ,  澤田 俊夫 ,  特許業務法人大同特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-200734
公開番号（公開出願番号）：特開2020-067388
出願日： 2018年10月25日
公開日（公表日）： 2020年04月30日
要約：

【課題】パルス光を出射する発光部や反射されたパルス光が入射される受光部の異常を容易に検出できるようにする。【解決手段】発光部11からパルス光を物体に照射して、物体で反射されたパルス光を受光部12で受光する。距離算出部15は、パルス光の発光タイミングと受光部12における反射されたパルス光の受光結果に基づき、パルス光を反射した物体までの距離を算出する。検出部16は、パルス光が照射されていないときの受光部12の第1の受光量と、パルス光が照射されているときの受光部12の第2の受光量、あるいは第1の受光量と第2の受光量と物体までの距離を用いての相関関係を判別する。検出部16は、相関関係における変動が所定範囲を超えた場合にパルス光を出射する発光部または受光部の異常と判別する。また、検出部16は、第2の受光量が大きいために相関関係における変動が所定範囲を超えた場合、パルス光の出射を停止させる。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

物体で反射されたパルス光を受光する受光部における前記パルス光が前記物体に照射されていないときの第1の受光量と、前記パルス光が前記物体に照射されているときの第2の受光量の相関関係に基づいて、前記パルス光を出射する発光部または前記受光部の異常を検出する検出部 を備える異常検出装置。

IPC (2件)：

G01S 7/497 ,  G01C 3/06

FI (2件)：

G01S7/497 ,  G01C3/06 120Q

Fターム (19件)：

2F112AD01 ,  2F112BA14 ,  2F112CA12 ,  2F112FA03 ,  2F112FA07 ,  2F112FA09 ,  2F112FA21 ,  2F112FA45 ,  5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084AD05 ,  5J084BA04 ,  5J084BA20 ,  5J084BA32 ,  5J084CA03 ,  5J084CA25 ,  5J084CA31 ,  5J084CA68 ,  5J084EA20