特許

J-GLOBAL ID：202003018836883985

診断装置、診断方法及びプログラム

発明者： 増崎 隆彦 ,  那須 督
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (3件)： 木村 満 ,  八島 耕司 ,  美恵 英樹
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2018023044
公開番号（公開出願番号）：WO2019-239607
出願日： 2018年06月15日
公開日（公表日）： 2019年12月19日
要約：

診断装置(10)は、取得部(101)と診断部(140)とを備える。取得部(101)は、異常の有無の診断対象となる入力信号として入力値の系列を取得する。診断部(140)は、取得部(101)によって取得された系列の入力値を要素とする入力ベクトルと予め定められた第1基準ベクトルとの距離を示す第1指標値と、入力ベクトルと予め定められた第2基準ベクトルとの角度を示す第2指標値と、から異常の有無を診断する。

請求項（抜粋）：

異常の有無の診断対象となる入力信号として入力値の系列を取得する取得手段と、 前記取得手段によって取得された系列の前記入力値を要素とする入力ベクトルと予め定められた第1基準ベクトルとの距離を示す第1指標値と、前記入力ベクトルと予め定められた第2基準ベクトルとの角度を示す第2指標値と、から異常の有無を診断する診断手段と、 を備える診断装置。

IPC (1件)：

G05B 23/02

FI (1件)：

G05B23/02 302S

Fターム (12件)：

3C223AA11 ,  3C223BA01 ,  3C223CC01 ,  3C223DD01 ,  3C223FF03 ,  3C223FF12 ,  3C223FF26 ,  3C223FF35 ,  3C223GG01 ,  3C223HH02 ,  3C223HH03 ,  3C223HH22