特許
J-GLOBAL ID：202003019140216654
ラベル製造装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
▲高▼橋 寛
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-070348
公開番号（公開出願番号）：特開2017-177635
特許番号：特許第6679164号
出願日： 2016年03月31日
公開日（公表日）： 2017年10月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 少なくとも連続状の剥離体上に剥離自在にラベル粘着層を介して型抜きされたラベルが所定間隔で形成され、当該各ラベルが良品か否かが検査されて不良品と判別されている不良ラベルを不良ラベル除去手段により除去するラベル製造装置であって、
前記不良ラベル除去手段は、
軸方向上の周面に所定数の第1粘着部及び所定数の第1非粘着部が隣接されて形成され、前記不良ラベルの搬送方向に対する幅方向の一部のラベル粘着層の反対側を当該第1粘着部で接着保持して前記剥離体より剥離させる不良ラベル取得ローラと、
周面の軸方向上の全部又は一部に、少なくとも前記不良ラベル取得ローラの第1非粘着部に対応する位置に第2粘着部が形成され、当該不良ラベル取得ローラで接着保持された前記不良ラベルのラベル粘着層側を当該第2粘着部で接着保持して回収する不良ラベル回収ローラと、
を有することを特徴とするラベル製造装置。
IPC (2件)：
B31D 1/02 ( 200 6.01)
, G09F 3/00 ( 200 6.01)
B31D 1/02 A
, G09F 3/00 E
, G09F 3/00 M
