特許

J-GLOBAL ID：202003019281169641

劣化予測プログラム、劣化予測方法、および劣化予測装置

発明者： 木幡 駿 ,  齊藤 孝広 ,  伊海 佳昭
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 酒井 昭徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-194171
公開番号（公開出願番号）：特開2020-063920
出願日： 2018年10月15日
公開日（公表日）： 2020年04月23日
要約：

【課題】バッテリの劣化予測の精度向上を図ること。【解決手段】情報処理装置100は、端末装置Aと端末装置Bとのバッテリの劣化量の時間変化を示す時系列データを取得する。情報処理装置100は、端末装置Aについてのモデル101,102などを生成し、端末装置Bについてのモデル103,104などを生成する。情報処理装置100は、モデル101〜104などが示す直線または折れ線に含まれる各線分区間に、利用形態1と利用形態2とを対応付けた1以上のパターンを生成する。情報処理装置100は、パターンを組み合わせて、組み合わせ111〜114などを生成する。情報処理装置100は、組み合わせ111〜114などのそれぞれの組み合わせにおける、利用形態ごとの線分区間の傾きのばらつきに基づいて、端末装置ごとのバッテリの劣化予測を実施する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

コンピュータに、 端末装置ごとのバッテリの劣化度合いの時間変化を示す時系列データを取得し、 前記端末装置ごとに、取得した前記時系列データに基づいて、前記端末装置のバッテリの劣化度合いの時間変化を折れ線近似する場合の折れ点候補を考慮して、前記端末装置のバッテリの劣化度合いの時間変化を近似する直線または折れ線を示す1以上のモデルを生成し、 前記端末装置ごとに、特定した前記1以上のモデルのそれぞれのモデルが示す直線または折れ線に含まれる各線分区間に前記端末装置の複数の利用形態のいずれかの利用形態を対応付けた1以上のパターンを生成し、 前記端末装置ごとに生成した前記1以上のパターンのいずれかのパターンを選択して組み合わせた1以上の組み合わせのそれぞれの組み合わせにおける、前記利用形態ごとの線分区間の傾きのばらつきに基づいて、前記端末装置ごとのバッテリの劣化予測を実施する、 処理を実行させることを特徴とする劣化予測プログラム。

IPC (2件)：

G01R 31/36 ,  H01M 10/48

FI (2件)：

G01R31/36 A ,  H01M10/48 P

Fターム (13件)：

2G216AB03 ,  2G216BA21 ,  2G216CB34 ,  2G216CB35 ,  2G216CB52 ,  2G216CB55 ,  2G216CC04 ,  2G216CD03 ,  5H030AA01 ,  5H030AA10 ,  5H030AS11 ,  5H030FF41 ,  5H030FF52

引用特許：

出願人引用 (2件)

• バッテリ監視システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-060485   出願人：富士通株式会社
• 劣化係数決定システム、劣化予測システム、劣化係数決定方法およびプログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2013-152723   出願人：日本電気株式会社