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J-GLOBAL ID：202102210171087977   整理番号：21A0007563

縮小精度冗長FFT設計の評価【JST・京大機械翻訳】

Evaluation of a Reduced Precision Redundancy FFT Design

著者 (4件)： Garcia-Astudillo L. A. ,  Lindoso A. ,  Portela M. ,  Entrena L.
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： DCIS  ページ： 1-6  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： SRAMベースFPGA上の宇宙応用に対するフォールトトレラント設計は,典型的には,イオン化放射によって誘起される故障を緩和するために,分散三重モジュール冗長性(DTMR)またはブロック三重モジュール冗長性(BTMR)を必要とする。これらの方法は,大きな面積オーバーヘッドをもたらし,次に,設計をより放射線効果に敏感にする。縮小精度冗長性(RPR)技術を,面積オーバーヘッドと信頼性の間のトレードオフとして提案した。本研究では,RPR硬化技術をレビューし,事例研究として硬化高速Fourier変換(FFT)ブロックを用いた故障注入キャンペーンを行うことによりTMRと比較した。結果は,実装されたRPRがFPGA資源を節約するだけではなく,TMR解法に関して臨界誤り率とコモンモード故障(CMF)の影響を減らすことを示した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： イオン化 ,  放射線効果 ,  故障 ,  *冗長性 ,  信頼性 ,  臨界 ,  誤り率 ,  事例研究 ,  宇宙空間 ,  高速Fourier変換 ,  SRAM ,  フォールトトレランス ,  FPGA
準シソーラス用語： 故障注入 ,  オーバヘッド , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 音声処理  (JE05000E) ,  NMR一般  (BM07041R) ,  符号理論  (ND02030R) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： 縮小 ,  冗長 ,  FFT ,  設計 ,  評価