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J-GLOBAL ID:202102210447569915   整理番号:21A0918521

大型電力電子機器低圧試験技術研究【JST・京大機械翻訳】

Research on low voltage test technology for large-scale power electronic devices
著者 (1件):
資料名:
巻: 21  号: 10  ページ: 103-107  発行年: 2020年 
JST資料番号: C4457A  ISSN: 1673-3800  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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電力系統によく見られる大型電力電子機器は、静止無効電力補償装置、固定融氷装置、制御可能な直列補償装置、制御可能な高抵抗装置などを含み、その日常停電検修、設備運転試験は設備とシステムの安全性を保証する重要な方面である。通常、検査方法は再投入使用前の試験の必要条件を満たすことができない。本文では、大型電力電子装置のキー部品であるバルブベース電子機器、サイリスタ電子板及びバルブの低圧試験方法について深く検討し、バルブベース電子機器制御信号発生器の実現構想を提案した。バルブベース電子機器制御信号発生器は,バルブベース電子装置の機能と部分調節制御器の機能を備えている。バルブベース電子機器制御信号発生器の制御システムのシミュレーション機能とバルブベース電子デバイスシミュレーション機能の実現方法について詳しく述べ、バルブベース電子機器制御信号発生器を提案し、単独モードと複合モードの二つの低圧試験方法を通じて、バルブベース電子デバイスを実現した。サイリスタ電子板とバルブの低圧試験。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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送電  ,  電力変換器 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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