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J-GLOBAL ID：202102212126607783   整理番号：21A0985714

WS_2の剥離単一フレークの時間分解THz時間領域近接場顕微鏡法【JST・京大機械翻訳】

Time-resolved THz time-domain near-field microscopy of exfoliated single flakes of WS2

著者 (5件)： Huurne Stan ter (Eindhoven University of Technology,Department of Applied Physics and Institute for Photonic Integration,Eindhoven,The Netherlands,5600 MB) ,  van Hoof Niels (Eindhoven University of Technology,Department of Applied Physics and Institute for Photonic Integration,Eindhoven,The Netherlands,5600 MB) ,  Elrafey Sara (Eindhoven University of Technology,Department of Applied Physics and Institute for Photonic Integration,Eindhoven,The Netherlands,5600 MB) ,  Curto Alberto (Eindhoven University of Technology,Department of Applied Physics and Institute for Photonic Integration,Eindhoven,The Netherlands,5600 MB) ,  Gomez-Rivas Jaime (Eindhoven University of Technology,Department of Applied Physics and Institute for Photonic Integration,Eindhoven,The Netherlands,5600 MB)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： IRMMW-THz  ページ： 1-2  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： テラヘルツ分光法は,金属と半導体の電荷キャリア特性の測定を可能にする強力で非接触技術である。しかし,THz放射の比較的長い波長と光学イメージングシステムによって課された回折限界は,THz分光法の適用性をかなり減少させる。サブ回折分解能を持つキャリア動力学の測定を可能にする時間分解テラヘルツ近接場顕微鏡を開発した。この顕微鏡を用いて,数十ミクロンの分解能を有する2D遷移金属ジカルコゲン化物結晶の剥離フレークを測定した。半導体のマッピングキャリア動力学,非侵襲的,およびミクロン長スケールは,材料キャラクタリゼーションの新しい可能性を開く。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 回折 ,  半導体 ,  波長 ,  *顕微鏡観察 ,  二次元 ,  キャラクタリゼーション ,  フレーク ,  *近接場 ,  テラヘルツ波
準シソーラス用語： 非侵襲 ,  非接触 ,  テラヘルツ分光法 ,  電荷キャリア ,  *時間領域 ,  イメージングシステム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 音声処理  (JE05000E) ,  パターン認識  (JE07000S) ,  符号理論  (ND02030R) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： フレーク ,  分解 ,  時間領域 ,  近接場 ,  顕微鏡法