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J-GLOBAL ID:202102212449710390   整理番号:21A2219031

粉末X線回折法 基礎講座 第2回 質の高いデータを取得するための装置構成の選択

著者 (1件):
資料名:
巻: 51  号:ページ: 18-25 (WEB ONLY)  発行年: 2020年10月21日 
JST資料番号: U2454A  ISSN: 1883-8456  CODEN: RJIAAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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・質の高いデータを得るための「装置構成の選択」としてX線発生源と光学系の選択,入射および受光光学系の条件設定,検出器条件の設定について説明。
・X線発生源の選択として,構造の違い,ターゲット金属の種類,X線の焦点の種類について解説,光学系の選択として集中法,平行ビーム法,集光ビーム法について説明。
・集中法光学系として単色化,入射および受光光学系の条件としてスリット等の設定,入射光学系にミラーを用いた場合,検出器モードの選択を説明。
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分類 (2件):
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X線技術  ,  X線回折法 
引用文献 (6件):
  • 生天目由紀子:リガクジャーナル,41(2010), No. 1, 18-21.
  • リガクジャーナル,41(2010), No. 1, 37.
  • 刑部 剛:リガクジャーナル,47(2016), No. 2,7-11.
  • 生天目由紀子:リガクジャーナル,48(2017), No. 2, 19-23.
  • リガクジャーナル,48(2017), No. 2, 29-30.
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タイトルに関連する用語 (4件):
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