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J-GLOBAL ID：202102213852423472   整理番号：21A0065987

電力変圧器の500kV OIPブッシングに関する条件評価【JST・京大機械翻訳】

Condition assessment on the 500kV OIP bushings of power transformer

著者 (5件)： Yuan Yao (Electric Power Research Institute, China Southern Grid,Guangzhou,China) ,  Yang Jiahui (Electric Power Research Institute, China Southern Grid,Guangzhou,China) ,  Bao Lianwei (Electric Power Research Institute, China Southern Grid,Guangzhou,China) ,  Li Ruihai (Electric Power Research Institute, China Southern Grid,Guangzhou,China) ,  Zhao Linjie (Electric Power Research Institute, China Southern Grid,Guangzhou,China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： ICHVE  ページ： 1-4  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 統計は,ほとんどの変圧器故障がブッシングによって引き起こされることを示した。しかし,ブッシングの条件評価のための有効な方法はまだ不足している。本論文では,ドローリードブッシングと導体チューブブッシングの間の故障原因を最初に研究し,導体チューブブッシングがドローリードブッシングよりも火災を引き起こす可能性が高いことを示した。500kVの油含浸紙(OIP)ブッシングの254ユニットグループの電気的性能をさらに調査した。DGA,誘電損失,DFR,X-ワックスおよび高電圧PD結果の分布を調べた。ブッシングにおけるX-ワックスの存在は,水素の量に高度に関連し,5000ppmは,著者らのデータベースに従って,最小注意限界として見なせることを示した。0.5%以上のtanδを有するブッシングと38%以上の名前プレートΔtanδへのその変動が,深刻な条件で最もありそうであった。さらに,DFR試験に及ぼすX-ワックスの影響は,水分とは異なった。tanδ,DGA,DFR,および解体所見の分布を結合することによって確立された条件評価法を,4つの追加事例によって検証する。本論文は,実際にブッシングの条件評価のための有用な参照を提供することができた。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 変圧器 ,  誘電損失 ,  火災 ,  故障 ,  データベース ,  水素 ,  *電力変圧器 ,  *ブッシング ,  含浸 ,  ワックス ,  水分 ,  導体 ,  損失正接
準シソーラス用語： 故障原因 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 電力変圧器 ,  ブッシング ,  評価