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J-GLOBAL ID:202102214324492502   整理番号:21A2542941

フレキシブルコンバータバルブ用圧接型IGBTパワーサブモジュール加速老化試験法【JST・京大機械翻訳】

An Accelerated Aging Test Method of Press-Pack IGBTs Based Power Submodules for VSC-HVDC Converter Valve
著者 (4件):
資料名:
巻: 15  号:ページ: 1-11  発行年: 2021年 
JST資料番号: C3441A  ISSN: 1674-0629  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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圧接型絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(insulatedgatebipolartransistor,IGBT)内部の各層材料が導通電流の同時に伝達熱量、圧力を受ける作用があり、熱、電気、力多物理場結合システムに属する。従って、圧接型IGBTの老化メカニズムは溶接型IGBTと異なって、新しい試験方法を採用して加速老化試験を行う必要があり、さらに老化メカニズムの研究により多くの分析データを得る必要がある。既存の研究方法と成果を参考にして,マルチ励起型多重特性パラメータ監視の加速老化試験法を提案し,衝撃サイクル,一定高温,電力サイクル,および温度サイクルの4つのタイプの励振法を設計した。実験トポロジーを設計,試験パラメータの調整原理,全方位励起圧接型IGBTの老化破壊過程を明らかにした。マルチアングル監視試験中のデバイス劣化状態のため,オンライン監視法と周期的離散監視法を提案し,デバイス電流,飽和ターンオン圧力降下,ヒートシンクシェル温度などの特性パラメータを監視した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
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電線・ケーブル  ,  ポリオレフィン  ,  絶縁材料 
タイトルに関連する用語 (3件):
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