抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
偏光子のような高分子膜製品の産業において,透明微小欠陥の3次元(3D)輪郭を測定すると,最も一般的な欠陥は,さらなる処理を行う必要がある。本論文では,二次元イメージングを用いて直接測定の問題を推定問題に変換することにより,回帰に基づく欠陥の3D形状を推定するための効率的な方法を提案した。基本的アイデアは,透明な微小欠陥に関する構造化光飽和イメージングデータを得ることを含む。ラベル付きデータセットを作成するために共焦点顕微鏡測定データを統合し,次元縮小を実行した。飽和画像と欠陥3D属性の間の関係を確立するために,低次元小集合空間でのサポートベクトル回帰を用いた。そして,それらの飽和画像に学習関係を適用することにより,新しい欠陥サンプルの形状を予測する。判別部分空間において,飽和画像の多様体は,深さと幅のような欠陥3D形状の変化属性を明らかに示すことができる。実験結果は,欠陥深さの平均相対誤差(MRE)が3.64%であり,欠陥幅のMREが1.96%であることを示した。Matlabプラットフォームで消費される推定時間は0.01s未満である。共焦点顕微鏡のような精密測定装置と比較して,著者らの推定法は,品質管理の効率を大いに改善し,自動欠陥同定の精度要求を満たす。したがって,製品の完全な検査に適している。Copyright 2021 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】