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J-GLOBAL ID：202102216600572301   整理番号：21A2038515

X線回折における多変量解析の応用【JST・京大機械翻訳】

Multivariate Analysis Applications in X-ray Diffraction

著者 (4件)： Guccione Pietro (Dipartimento di Ingegneria Elettrica e dell’Informazione, Politecnico di Bari, via Orabona 4, 70125 Bari, Italy) ,  Lopresti Mattia (Dipartimento di Scienze e Innovazione Tecnologica, Universita del Piemonte Orientale, viale T. Michel 11, 15121 Alessandria, Italy) ,  Milanesio Marco (Dipartimento di Scienze e Innovazione Tecnologica, Universita del Piemonte Orientale, viale T. Michel 11, 15121 Alessandria, Italy) ,  Caliandro Rocco (Institute of Crystallography, CNR, via Amendola, 122/o, 70126 Bari, Italy)
資料名： Crystals (Web)  (Crystals (Web))
巻： 11  号： 1  ページ： 12  発行年： 2020年 
JST資料番号： U7169A  ISSN： 2073-4352  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多変量解析(MA)は,X線回折実験で収集された大量のデータを効率的に処理するための基本的ツールになっている。マルチウェッジデータ収集は,小蛋白質結晶の場合のデータ品質を増加させることができる。in situまたはoperandoセットアップは,繰返し高速測定中に生じる粉末試料の変化を調べる。X線自由電子レーザ(XFEL)源でのポンプとプローブ実験は,高速光励起プロセスの構造キャラクタリゼーションを提供する。これらのすべての場合において,MAはデータに隠された関連情報の抽出を容易にし,先験的構造知識がない場合でさえ自動データ処理の可能性を取り除く。X線回折の分野で最近使用されているMA法をレビューし,理論的背景と可能な応用についてヒントを得た。変調増強回折技術の枠組みにおけるMAの使用を詳細に記述した。Copyright 2021 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *X線回折 ,  *回折 ,  単結晶 ,  光ポンピング ,  プローブ ,  粉体 ,  *多変量解析 ,  データ処理 ,  データ収集 ,  主成分分析 ,  X線自由電子レーザ
準シソーラス用語： 粉末X線回折 ,  データ品質 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 多変量解析 ,  ケモメトリックス ,  主成分分析 ,  部分最小二乗 ,  X線粉末回折 ,  X線単結晶回折

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (89件)：

• Pearson, K.; Yule, G.U.; Blanchard, N.; Lee, A. The Law of Ancestral Heredity. Biometrika 1903, 2, 211-236.
• Yule, G.U. On the Theory of Correlation. J. R. Stat. Soc. 1897, 60, 812-854.
• Hotelling, H. Analysis of a complex of statistical variables into principal components. J. Educ. Psychol. 1933, 24, 417.
• Jolliffe, I.T. Principal Components Analysis, 2nd ed.; Springer: Berlin, Germany, 2002.
• Bellman, R.E. Dynamic Programming; Princeton University Press: Princeton, NJ, USA, 1957.

タイトルに関連する用語 (3件)： X線回折 ,  多変量解析 ,  応用