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J-GLOBAL ID:202102216963087696   整理番号:21A0030601

Ag_2Se薄膜に及ぼすアニーリングの影響の研究【JST・京大機械翻訳】

Studying the effect of the annealing on Ag2Se thin film
著者 (4件):
資料名:
巻: 2307  号:ページ: 020007-020007-6  発行年: 2020年 
JST資料番号: D0071C  ISSN: 0094-243X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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セレン化銀(Ag_2Se)薄膜に及ぼすアニーリング効果を調べた。Ag_2Se薄膜を,450nmの厚さのガラス基板に基づく熱蒸着技術を用いて確立した。これらの薄膜を異なる温度値,すなわち(375,450)kで焼なました。本研究では,X線と原子間力顕微鏡(AFM)ベースの技術を用いて,Ag_2Se薄膜の物理的構造特性を調べた。さらに,吸光度と透過率スペクトルをさらに調べ,温度値の3つの異なる変化で(400~1000)ナノマテリアル(nm)の波長の範囲に従って記録した。その結果,試料の最大吸収値は450kの温度処理で達成され,最大透過率値は300kの温度で得られた。さらに,電子遷移の性質も評価した。結果は,この薄膜がアニーリングの前後で(1.9)と(1.7,1.4)電子ボルト(eV)の光学エネルギーギャップを有する直接許容遷移を有することを示した。Copyright 2021 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
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光物性一般  ,  半導体薄膜  ,  その他の無機化合物の薄膜 
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