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J-GLOBAL ID：202102217456686220   整理番号：21A0051140

Zn-O-S薄膜に及ぼすチオ尿素濃度の影響【JST・京大機械翻訳】

Effect of thiourea concentration on Zn-O-S thin films

著者 (5件)： Guo Qing (天津理工大学天津市薄膜与電子通訊設備重点実験室,天津300384;天津華鼎科技有限公司,天津300171) ,  Pan Honggang (天津理工大学天津市薄膜与電子通訊設備重点実験室,天津300384) ,  Xue Yuming (天津理工大学天津市薄膜与電子通訊設備重点実験室,天津300384) ,  Feng Shaojun (天津理工大学天津市薄膜与電子通訊設備重点実験室,天津300384) ,  Zhang Liming (天津理工大学天津市薄膜与電子通訊設備重点実験室,天津300384)
資料名： Dianyuan Jishu  (Dianyuan Jishu)
巻： 44  号： 9  ページ： 1316-1320  発行年： 2020年 
JST資料番号： C2501A  ISSN： 1002-087X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： Zn-O-S薄膜を化学水浴法で調製し,82°Cで硫酸亜鉛,硫酸アンモニウム,アンモニア水を順次添加し,次にチオ尿素を添加後,Zn-O-S薄膜を得た。試料の光学的バンドギャップを,ステップ,走査電子顕微鏡,X線回折,および紫外分光光度計によって特性評価し,膜の厚み,結晶形態,相特性,および光学特性を,Tauc式を用いて,外挿した接線線によって,得た,そして,試料の光学的バンドギャップを,Tauc式によって,得た。これらの情報により、チオ尿素濃度がサンプルに与える影響を分析した。チオ尿素濃度が0.167mol/Lのとき,結晶は,小さい細孔と不純物が少なく,ZnOナノロッドと大きいサイズの結晶粒が最低であった。XRD回折パターンでは、28.5°と31°付近に明らかな回折ピークが現れ、それぞれ(111)結晶方位のZnSと(100)結晶方位のZnOに対応する。この条件で、サンプルの光学バンドギャップは3.52eVであり、最低であった。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線回折 ,  回折 ,  光学的性質 ,  走査電子顕微鏡 ,  *薄膜 ,  不純物 ,  結晶方位 ,  酸化亜鉛 ,  硫酸アンモニウム ,  結晶粒 ,  結晶形態 ,  硫酸亜鉛 ,  光学ギャップ ,  バンドギャップ ,  ウレア化合物 ,  有機硫黄化合物

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

物質索引 (1件)： チオ尿素

タイトルに関連する用語 (2件)： 薄膜 ,  チオ尿素