Wei Ruyi について
Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an 710119, China について
Wei Ruyi について
Key Laboratory of Spectral Imaging Technology, Chinese Academy of Sciences, Xi’an 710119, China について
Yin Bangsheng について
Atmospheric Science Research Center, State University of New York, Albany, NY 12203, USA について
Optics Communications について
干渉計 について
Michelson干渉計 について
配置設計 について
可動型 について
光路差 について
高精度 について
Fourier変換分光計 について
インターフェログラム について
Michelson干渉計 について
傾斜補償 について
光学的配置設計 について
画像回転子 について
光学的経路差 について
光学情報処理 について
図形・画像処理一般 について
干渉測定と干渉計 について
長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 について
光学的測定とその装置一般 について
回転子 について
補償 について
Fourier変換分光計 について