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J-GLOBAL ID：202102219347145803   整理番号：21A0183065

[数式:原文を参照]スペクトルの精密測定【JST・京大機械翻訳】

Precision measurement of the [Formula : see text] spectrum

著者 (11件)： Alekseev I. E. (V.G. Khlopin Radium Institute, St. Petersburg 194021, Russia) ,  Bakhlanov S. V. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia) ,  Derbin A. V. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia) ,  Drachnev I. S. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia) ,  Kotina I. M. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia) ,  Lomskaya I. S. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia) ,  Muratova V. N. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia) ,  Niyazova N. V. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia) ,  Semenov D. A. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia) ,  Trushin M. V. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia) ,  Unzhakov E. V. (Petersburg Nuclear Physics Institute, National Research Center “Kurchatov Institute”, Gatchina 188350, Russia)
資料名： Physical Review. C  (Physical Review. C)
巻： 102  号： 6  ページ： 064329  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0747A  ISSN： 2469-9985  CODEN： PRVCAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 半導体Si(Li)検出器に基づく分光計を用いて,[数式:原文を参照](歴史的RaE)に対するβスペクトル形状の精度測定を行った。この最初の禁制遷移は,1から強く逸脱した遷移型因子を持ち,そのスペクトルの知識は,[数式:原文を参照]バックグラウンドの存在下で低バックグラウンド物理で重要な役割をする。測定した遷移形状因子は[数式:原文を参照]として近似でき,以前の研究と良く一致し,パラメータ精度を著しく増加させた。Copyright 2021 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 半導体 ,  精密測定 ,  形状因子 ,  *スペクトル ,  β線スペクトル ,  検出器 ,  分光計 ,  禁止遷移

分類 (2件)： その他の粒子による反応・散乱  (BG04080F) ,  原子核の一般的性質  (BG02010S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 数式 ,  参照 ,  スペクトル ,  精密測定