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J-GLOBAL ID:202102221580837193   整理番号:21A1918098

EWT-ARMAに基づく短期電離層TEC予測モデル【JST・京大機械翻訳】

Short-Term Ionospheric TEC Prediction Model Based on EWT-ARMA
著者 (5件):
資料名:
巻: 41  号:ページ: 331-335,341  発行年: 2021年 
JST資料番号: C2664A  ISSN: 1671-5942  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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電離層全電子含有量(TEC)データの非線形性、非定常性の特徴に対して、自己回帰移動平均(ARMA)モデルに基づき、経験ウェーブレット変換(EWT)と結合して、組合せの短期電離層予測方法を提案した。IGSにより提供された電離層TECグリッドデータを使って実験を行い、比較分析により、単一ARMAモデルに比べ、本文の組合わせモデルは太陽活動低年と太陽活動高年5d以内の平均相対精度がそれぞれ4.8%と2.8%向上していることが分かった。前1日以内の平均相対精度は,それぞれ7%と6.1%増加した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
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電離層・熱圏 
タイトルに関連する用語 (4件):
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