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J-GLOBAL ID：202102222588871676   整理番号：21A0089621

Pd-Y-H系の緩和過程における欠陥構造の発展【JST・京大機械翻訳】

Defect structure evolution in the process of relaxation of the Pd-Y-H system

著者 (6件)： Akimova O V (Physics department, Lomonosov Moscow State University, Moscow 119991, Russia) ,  Veligzhanin A A (National Research Center Kurchatov Institute, Moscow 123181, Russia) ,  Svetogorov R D (National Research Center Kurchatov Institute, Moscow 123181, Russia) ,  Gorbunov S V (Baikov Institute of Metallurgy and Materials Science, Moscow 119334, Russia) ,  Roshan N R (Baikov Institute of Metallurgy and Materials Science, Moscow 119334, Russia) ,  Burkhanov G S (Baikov Institute of Metallurgy and Materials Science, Moscow 119334, Russia)
資料名： Journal of Physics: Conference Series  (Journal of Physics: Conference Series)
巻： 1697  号： 1  ページ： 012072 (6pp)  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5565A  ISSN： 1742-6588  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線回折と高精度走査電子顕微鏡法を用いて,拡散フィルタ-膜Pd-Yの欠陥構造の長期的発展を研究した。X線回折データとマイクロエレクトロニクス写真の解析は,膜中の転位構造の回復が均一ではないことを示した。膜の構造における水素保存のプロセスの違いは,可逆的水素ドーピングを決定する。超構造秩序領域の合金による保存を検出した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線回折 ,  合金 ,  水素 ,  ドーピング ,  *緩和現象 ,  マイクロエレクトロニクス
準シソーラス用語： 超構造 ,  走査電子顕微鏡法 ,  高精度 ,  欠陥構造 ,  転位構造 ,  拡散フィルタ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： その他の金属組織学  (WB01040Y) ,  金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (4件)： Pd ,  緩和過程 ,  欠陥構造 ,  発展