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J-GLOBAL ID：202102225379399151   整理番号：21A3307014

Te原子によるSeの置換によるCu_2Seの低温熱伝導率の減少【JST・京大機械翻訳】

Reduction in low-temperature thermal conductivity of Cu₂Se via substitution of Se by Te atoms

著者 (5件)： Mangavati Suraj (Centre for Clean Energy, Department of Physics, Manipal Institute of Technology, Manipal Academy of Higher Education, Manipal, 576104, Karnataka, India) ,  Pal Anand (Centre for Clean Energy, Department of Physics, Manipal Institute of Technology, Manipal Academy of Higher Education, Manipal, 576104, Karnataka, India) ,  Rao Ashok (Centre for Clean Energy, Department of Physics, Manipal Institute of Technology, Manipal Academy of Higher Education, Manipal, 576104, Karnataka, India) ,  Jiang Zhao-Ze (Department of Physics, National Dong-Hwa University, Hualien, 974, Taiwan) ,  Kuo Yung-Kang (Department of Physics, National Dong-Hwa University, Hualien, 974, Taiwan)
資料名： Journal of Physics and Chemistry of Solids  (Journal of Physics and Chemistry of Solids)
巻： 160  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0202A  ISSN： 0022-3697  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Te原子によるSeの系統的置換を有するCu_2Se化合物の構造と熱電特性を報告する。x=0.00,0.02,0.04,0.06および0.08のTe濃度に対するバルク多結晶Cu_2Se_1-xTe_x試料を固相反応法により調製した。室温XRD研究は,研究した試料が単斜晶結晶構造を有することを明らかにした。X線光電子分光法(XPS)を用いて酸化状態と電子構造を確認した。試料の硬度はTeドーピング濃度の増加と共に系統的に増加した。ドープした試料の電気抵抗率は,純粋な試料と比較して増加した。Seebeck係数は調査中の温度範囲を通して正であり,正孔が研究した化合物中の主要な電荷キャリアであることを示した。ドープした試料の熱伝導率は低下し,これはおそらく点欠陥散乱に起因した。範囲(0.00≦x≦0.08)にわたるTeによるSeの置換による熱電特性の系統的な発展は,全体の熱電力率(PF)と性能指数(ZT)が,元のCu_2Se化合物と比較して,Te置換と共に減少すると結論する。Copyright 2021 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線回折 ,  結晶構造 ,  固相反応 ,  正孔 ,  *低温 ,  電気抵抗率 ,  電子構造 ,  *熱伝導率 ,  *セレン ,  *テルル ,  多結晶 ,  ドーピング ,  単斜晶系
準シソーラス用語： Seebeck係数 ,  熱電特性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 熱電材料 ,  Rietveld精密化 ,  熱伝導率 ,  電気輸送 ,  性能指数

分類 (1件)： 半導体結晶の電気伝導  (BM03043X)

タイトルに関連する用語 (6件)： Te ,  原子 ,  Se ,  置換 ,  低温 ,  熱伝導率