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J-GLOBAL ID:202102225453446995   整理番号:21A2636945

SWIR検出のためのSiプラットフォーム上の高性能背面照射Ge_0.92Sn_0.08/Ge多重量子井戸光検出器【JST・京大機械翻訳】

High-Performance Back-Illuminated Ge0.92Sn0.08/Ge Multiple-Quantum-Well Photodetector on Si Platform For SWIR Detection
著者 (9件):
資料名:
巻: 28  号:ページ: ROMBUNNO.8200109.1-9  発行年: 2022年 
JST資料番号: W0734A  ISSN: 1077-260X  CODEN: IJSQEN  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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最近,デバイストップ表面に照射された外部光を有する高性能GeSnフォトダイオード(PD)が様々なプラットフォームで実証されている。しかし,焦点面アレイ(FPA)を有する画像センシングシステムに対して,前面照明センサは,通常,領域制限を受ける。ここでは,相補的金属-オキシド-半導体(CMOS)互換プロセスにより完全に実現した300mmシリコン基板上の高性能背面照明Ge_0.92Sn_0.08/Ge多重量子井戸(MQW)p-i-nPDについて報告する。1000~2,100nmの間の広帯域光応答が観察され,応答性は,それぞれ1,550および2,000nmで0.2850および0.0085A/Wであった。すべての従来の通信バンド(OからUバンド)をカバーする1,050と1900nmの間で,109cmHz1/2/Wより大きい比検出能を達成した。さらに,反射防止層の影響も詳細に研究した。結果は,黒色Si(b-Si)表面が,1000-1500nmの間のより多くの光電流を強化し,一方,SiO_2層(400nm厚み)は,1500nmを超えてより多くの電流を増加させることを示した。3dB帯域幅は,-2Vで直径20μmのメサに対して8GHzまで計算された。著者らの実験は,短波赤外(SWIR)範囲で動作する画像センシングシステムにおいて,潜在的用途を有する高検出および高速バック照明GeSn/Ge MQW PDを実証した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体レーザ  ,  その他の光伝送素子  ,  生体計測 

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