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J-GLOBAL ID:202102225933698073   整理番号:21A0463758

電子分光法による建設材料中の水素同位体の分析【JST・京大機械翻訳】

Analysis of hydrogen isotopes in construction materials by means of electron spectroscopy
著者 (6件):
資料名:
巻: 1713  号:ページ: 012001 (5pp)  発行年: 2020年 
JST資料番号: W5565A  ISSN: 1742-6588  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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電子分光法による水素深さプロファイル測定の可能性を実証した。非弾性平均自由行程(IMFP)に対応する厚さを持つ表面近傍層において,弾性ピーク電子分光法(EPES)をこの目的に使用した。輸送平均自由行程(IMFPより数桁大きい)に対応する深さの固体中の水素同位体深さプロファイルを測定するために,反射電子(SRE)のいわゆる分光法を用いた。本研究では,純粋なベリリウム試料および重水素原子を埋め込んだベリリウム試料の研究のためにSRE技術を採用した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
分類
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電子分光スペクトル  ,  半導体結晶の電気伝導 
タイトルに関連する用語 (4件):
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