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J-GLOBAL ID：202102231316283252   整理番号：21A0004357

A-V定式化モデルを用いたHTSTapesの異なる層からのAC損失寄与の解析【JST・京大機械翻訳】

Analysis of AC Loss Contributions From Different Layers of HTS Tapes Using the A-V Formulation Model

著者 (4件)： Musso Andrea (Department of Electrical, Electronic, and Information Engineering, University of Bologna, Bologna, Italy) ,  Breschi Marco (Department of Electrical, Electronic, and Information Engineering, University of Bologna, Bologna, Italy) ,  Ribani Pier Luigi (Department of Electrical, Electronic, and Information Engineering, University of Bologna, Bologna, Italy) ,  Grilli Francesco (Institute for Technical Physics, Karlsruhe Institute of Technology, Karlsruhe, Germany)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 31  号： 2  ページ： ROMBUNNO.5900411.1-11  発行年： 2021年 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,ac輸送電流による高温超伝導体被覆導体テープで生成されたac損失を計算するため,および一般的方位で印加されたac外部磁場により,スカラーおよびベクトルポテンシャルの定義に基づく数値モデルを提示した。参照テープの異なる層の材料特性をモデル方程式に含め,超伝導層あるいは被覆導体の全ての層を含むモデル間の差を解析した。このモデルを適用して,輸送電流と磁場の振幅(個別または組合せ)と周波数に対するac損失の依存性を調べた。数値結果を,H-定式化に基づく第2の数値モデルおよび実験結果による解析定式化と比較した。テープの全ac損失に対する非超伝導層の寄与が関連する条件を解析した。特に,異なる方位で印加したac外部磁場の周波数に対する損失の依存性を調べた。導体断面で計算した電流密度分布を用いて,計算した損失の傾向を説明した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 磁場 ,  超伝導 ,  スカラー ,  導体 ,  外部磁場 ,  *定式化 ,  ベクトルポテンシャル ,  高温超伝導体 ,  *交流損失
準シソーラス用語： 数値モデル ,  材料特性 ,  電流密度分布 ,  被覆導体 ,  輸送電流 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： パターン認識  (JE07000S) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 定式化 ,  モデル ,  層 ,  AC損失 ,  解析