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J-GLOBAL ID：202102231648075886   整理番号：21A1811271

メモリ応用のためのH行列ベースの誤り訂正符号【JST・京大機械翻訳】

H-Matrix Based Error Correction Codes for Memory Applications

著者 (4件)： Bhargavi Chukkapalli (Amrita School of Engineering,Department of Electronics and Communication Engineering,Bengaluru,India) ,  Nishanth Dangethi V R (Amrita School of Engineering,Department of Electronics and Communication Engineering,Bengaluru,India) ,  Nikhita Peddi (Amrita School of Engineering,Department of Electronics and Communication Engineering,Bengaluru,India) ,  Vinodhini M. (Amrita School of Engineering,Department of Electronics and Communication Engineering,Bengaluru,India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2021  号： ICAECT  ページ： 1-5  発行年： 2021年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： チップ中の放射性原子の減衰により放出されるプロトンがメモリを打つとき,セル中のコンテンツは変化し,ソフトエラーを生じる。この現象は宇宙線でも引き起こされる。セル間の間隔はCMOS技術で減少するので,多重近くのセルは放射により影響を受ける。本研究では,二重隣接誤差の多重可能性に対するH行列を用いた検出と補正機構を提示した。32データビットを考慮するとき,8ビットまでの二重隣接誤差の補正は修正可能である。二重隣接は,それぞれ最大4つの誤差ビットで2つのバースト誤差を平均する。3つの異なるパリティチェックマトリックスを用いて,異なる数のパリティビットを持つ3つの異なるH-Matrixベース符号を提案し,異なるパラメータに対して比較分析した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 宇宙線 ,  *記憶装置 ,  陽子 ,  バースト誤り ,  多重化 ,  ソフトエラー ,  パリティ検査 ,  *誤り訂正符号 ,  コンテンツ
準シソーラス用語： *H行列 ,  CMOS技術 ,  パリティビット , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  医用画像処理  (JE04020T) ,  NMR一般  (BM07041R)

タイトルに関連する用語 (3件)： 応用 ,  H行列 ,  誤り訂正符号