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J-GLOBAL ID：202102234398575987   整理番号：21A0165805

円筒形状材料オブジェクトのための表面層要素含有量の非破壊診断【JST・京大機械翻訳】

Nondestructure diagnostics of surface layers elements content for cylindrical shape material objects

著者 (4件)： Egorov V K (Institute of Microelectronics Technology, Russian Academy of Sciences, 142432, Chernogolovka, Russia) ,  Egorov E V (Institute of Microelectronics Technology, Russian Academy of Sciences, 142432, Chernogolovka, Russia) ,  Egorov E V (Institute of Radio Engineering and Electronics, Russian Academy of Sciences, 141190, Fryazino, Russia) ,  Egorov E V (Financial University under the government of the Russian Federation, 125167, Moscow, Russia)
資料名： Journal of Physics: Conference Series  (Journal of Physics: Conference Series)
巻： 1713  号： 1  ページ： 012015 (6pp)  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5565A  ISSN： 1742-6588  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 円筒形状材料物体表面層の非破壊要素濃度診断のための方法バックグラウンドを開発した。診断は,イオンビームとX線分析法のベースで,物体形状因子歪みなしで生成される。イオンビームRutherford後方散乱データおよびTXRF修飾測定の条件におけるX線蛍光試験の結果に基づいて,深さ元素濃度分布を決定した。核熱放出セルシェルの表面層における元素含有量の研究で得られた実験データによって,詳細な解析概念の可能性を説明した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： イオンビーム ,  蛍光 ,  熱放射 ,  円筒 ,  *故障診断 ,  *表層 ,  濃度分布 ,  X線分析 ,  形状因子 ,  Rutherford後方散乱
準シソーラス用語： 全反射蛍光X線分析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (5件)： オブジェクト ,  表面層 ,  要素 ,  含有量 ,  破壊診断