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J-GLOBAL ID：202102234939080236   整理番号：21A0563223

J-TEXTトカマクの密度測定のためのマイクロ波反射率計【JST・京大機械翻訳】

Microwave Reflectometer for Density Measurement on J-TEXT Tokamak

著者 (2件)： Ren Xiehang (Huazhong University of Science and Technology,School of Electrical and Electronic Engineering,International Joint Research Laboratory of Magnetic Confinement Fusion and Plasma Physics, State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology,Wuhan,China,430074) ,  Yang Zhoujun (Huazhong University of Science and Technology,School of Electrical and Electronic Engineering,International Joint Research Laboratory of Magnetic Confinement Fusion and Plasma Physics, State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology,Wuhan,China,430074)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： CIYCEE  ページ： 1-5  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロ波反射率計は,プラズマ密度プロファイルの測定に対し,高い空間および時間分解能を有する必須の診断ツールである。近年,マイクロ波反射率測定システムが開発され,J-TEXTトカマクで最適化された。それは3つの部分から成る:Qバンド(33-50GHz)は,Xモードを有するQバンド(Xモード),Vバンド(50-75GHz),および通常のモード(Oモード)を有するQバンドである。その測定範囲は,低磁場側プラズマの端部からコアまでカバーする。線形周波数掃引を得るために,電圧制御発振器(VCO)の動的較正を完了した。反射率計で測定したプロフィルは偏光測定結果と一致した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *トカマク ,  最適化 ,  プラズマ ,  プラズマ密度 ,  *マイクロ波 ,  *反射率計 ,  偏光測定 ,  線形性 ,  弱磁場 ,  VCO【発振器】 ,  時間分解能
準シソーラス用語： 周波数掃引 ,  Qバンド ,  密度測定 ,  反射率測定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 専用演算制御装置  (JC04030Y) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  音声処理  (JE05000E) ,  符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (4件)： トカマク ,  密度測定 ,  マイクロ波 ,  反射率計