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J-GLOBAL ID:202102237420172615   整理番号:21A1958950

集積高Kゲート誘電体と高K誘電体トレンチを有するVDMOSの数値研究【JST・京大機械翻訳】

Numerical Study of the VDMOS with an Integrated High-K Gate Dielectric and High-K Dielectric Trench
著者 (7件):
資料名:
巻: 2021  号: CSTIC  ページ: 1-3  発行年: 2021年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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統合高kゲート誘電体と高k誘電体トレンチを有するVDMOSを,本論文で調査した。高k(HK)誘電体をゲート誘電体とトレンチの両方に適用し,プロセスの複雑さを増加させずに性能を改善した。最初に,HK誘電体トレンチはドリフト領域の電場分布をより均一にし,破壊電圧(BV)を改善する。第二に,HK誘電体トレンチはドリフト領域の枯渇を助け,それによってドリフト領域のドーピング濃度を増加させ,比抵抗(Ron,sp)を減少させる。第3に,HKゲート誘電体は閾値電圧(V_th)を減少させ,デバイスの相互コンダクタンス(g_m)を増加させる。シミュレーション結果は,新しいVDMOSが,側壁HK誘電体VDMOS(SWHK VDMOS)と従来のVDMOS(ConVDMOS)と比較して,より良い破壊,出力,および伝導特性を有することを示した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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