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J-GLOBAL ID：202102237778505875   整理番号：21A2981143

VSCベースDCシステムにおける短絡故障によるコンデンサ放電I 2tの正規化【JST・京大機械翻訳】

Normalization of Capacitor-Discharge I²t by Short-Circuit Fault in VSC-Based DC System

著者 (4件)： Lee Seong-Yong (Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University, Seoul, South Korea) ,  Son Young-Kwang (Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University, Seoul, South Korea) ,  Cho Hyung-June (Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University, Seoul, South Korea) ,  Sul Seung-Ki (Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University, Seoul, South Korea)
資料名： IEEE Transactions on Power Electronics  (IEEE Transactions on Power Electronics)
巻： 37  号： 1  ページ： 843-854  発行年： 2022年 
JST資料番号： D0211B  ISSN： 0885-8993  CODEN： ITPEE8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電圧-ソース-コンバータベースのdcシステムにおいて,短絡電流は,近隣のdcリンク容量のために急速に増加した。高速ヒューズを用いた保護システムを,半導体デバイスを破る現在のフリーホイールを保護するために,産業において適用した。適切な保護システム設計のために,コンデンサー放電I2tを解析し,十分な容量を確保することによりヒューズの溶融I2tよりも高い設定が必要である。しかし,I2t関数の陰的特性のため,未知の故障抵抗を直接考慮して必要な静電容量を計算することは困難である。本論文では,キャパシタ放電の正規化I2tマップを計算参照として提示した。ベース値を計算した後,正規化I2t値は複雑な公式なしにマップから容易に計算できる。それは,減衰因子(正規化抵抗の半分)と正規化キャパシタ電圧の関数として表現されるので,故障抵抗と電圧降下の範囲において同時にI2t設計を助ける。提案した正規化とその結果を,種々の耐故障性の下で実験試験を通して検証した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *コンデンサ ,  電圧 ,  半導体素子 ,  *放電 ,  *故障 ,  システム設計 ,  短絡電流 ,  ヒューズ ,  静電容量 ,  フォールトトレランス ,  *正規化 ,  電圧降下

分類 (1件)： 電力変換器  (NB08030B)

タイトルに関連する用語 (6件)： VSC ,  DC ,  短絡故障 ,  コンデンサ ,  放電 ,  正規化