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J-GLOBAL ID：202102237907795718   整理番号：21A0182546

フォトニック反カイラルエッジ状態の観測【JST・京大機械翻訳】

Observation of Photonic Antichiral Edge States

著者 (12件)： Zhou Peiheng (National Engineering Research Center of Electromagnetic Radiation Control Materials, State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China) ,  Liu Gui-Geng (Division of Physics and Applied Physics, School of Physical and Mathematical Sciences, Nanyang Technological University, 21 Nanyang Link, Singapore 637371, Singapore) ,  Liu Gui-Geng (Centre for Disruptive Photonic Technologies, The Photonics Institute, Nanyang Technological University, 50 Nanyang Avenue, Singapore 639798, Singapore) ,  Yang Yihao (Division of Physics and Applied Physics, School of Physical and Mathematical Sciences, Nanyang Technological University, 21 Nanyang Link, Singapore 637371, Singapore) ,  Yang Yihao (Centre for Disruptive Photonic Technologies, The Photonics Institute, Nanyang Technological University, 50 Nanyang Avenue, Singapore 639798, Singapore) ,  Hu Yuan-Hang (National Engineering Research Center of Electromagnetic Radiation Control Materials, State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China) ,  Ma Sulin (National Engineering Research Center of Electromagnetic Radiation Control Materials, State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China) ,  Xue Haoran (Division of Physics and Applied Physics, School of Physical and Mathematical Sciences, Nanyang Technological University, 21 Nanyang Link, Singapore 637371, Singapore) ,  Wang Qiang (Division of Physics and Applied Physics, School of Physical and Mathematical Sciences, Nanyang Technological University, 21 Nanyang Link, Singapore 637371, Singapore) ,  Deng Longjiang (National Engineering Research Center of Electromagnetic Radiation Control Materials, State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China) ,  Zhang Baile (Division of Physics and Applied Physics, School of Physical and Mathematical Sciences, Nanyang Technological University, 21 Nanyang Link, Singapore 637371, Singapore) ,  Zhang Baile (Centre for Disruptive Photonic Technologies, The Photonics Institute, Nanyang Technological University, 50 Nanyang Avenue, Singapore 639798, Singapore)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 125  号： 26  ページ： 263603  発行年： 2020年 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： キラルエッジ状態は二次元トポロジー材料の特徴である。このような状態は時計回りあるいは反時計回りのバルクのエッジに沿って伝播し,ストリップ試料の2つの平行エッジに沿って逆伝搬エッジ状態を生成する。しかしながら,最近の理論は,2つの平行ストリップエッジにおける2つのエッジ状態が,同じ方向に伝搬するという反直感的な画像を予測した。これらの異常トポロジーエッジ状態はアンチキラルエッジ状態と呼ばれる。ここでは,ジャイロ磁気フォトニック結晶におけるアンチキラルエッジ状態の実験的観察を報告した。結晶はハニカム格子中のジャイロ磁性円筒から成り,2つの三角形副格子は反対方向に磁気的に偏った。マイクロ波測定により,アンチキラルエッジ状態のユニークな特性を直接観察し,それは傾斜分散,ある形状を有する試料中のキラル様ロバスト伝搬,およびある終端での後方バルク状態への100%散乱を含む。これらの結果は,キラルエッジ状態の現在の理解を拡大し,補完する。Copyright 2021 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 位相幾何学 ,  散乱 ,  円筒 ,  マイクロ波測定 ,  帯板 ,  磁気 ,  二次元 ,  磁性 ,  *ジャイロスコープ ,  副格子 ,  ロバスト性
準シソーラス用語： *エッジ状態 ,  キラリティ ,  磁性フォトニック結晶 ,  ハニカム格子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 電子輸送の一般理論  (BM03020C) ,  その他の無機化合物の電気伝導  (BM03044O) ,  半導体結晶の電子構造  (BM02060N)

タイトルに関連する用語 (3件)： フォト ,  カイラルエッジ状態 ,  観測