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J-GLOBAL ID：202102238988904545   整理番号：21A1775172

混合原子炉中性子とガンマ線照射により誘起されたバイポーラ演算増幅器におけるイオン化/変位相乗効果【JST・京大機械翻訳】

Ionizing/Displacement Synergistic Effects in Bipolar Operational Amplifiers Induced by Mixed Reactor Neutron and Gamma Irradiation

著者 (7件)： Wang Chenhui (Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi’an, China) ,  Chen Wei (Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi’an, China) ,  Jin Xiaoming (Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi’an, China) ,  Liu Yan (Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi’an, China) ,  Qi Chao (Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi’an, China) ,  Yang Shanchao (Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi’an, China) ,  Wan Chenghui (Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China)
資料名： ASME Conference Proceedings  (ASME Conference Proceedings)
号： ICONE25  ページ： Null  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0478C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： バイポーラ演算増幅器は原子炉制御システムで使用される重要な種類の電子デバイスであり,その放射線損傷は核操作の信頼性を脅かす。原子炉中性子とγ線照射で誘起されるバイポーラ演算増幅器の劣化を調べるために,放射実験をテキサス機器とアナログ装置によって製造された特定のバイポーラ演算増幅器OP07で達成した。増幅器は,それぞれ,個々の中性子,個々のγ線,および原子炉中性子とγ線の混合照射を同時に3つの異なる環境で照射した。結果は,両タイプのバイポーラ演算増幅器に対して,入力バイアス電流の劣化と原子炉中性子とγ線の混合照射による入力オフセット電圧が,個々に測定した中性子とガンマ分解の簡単な和より,著しく厳しいことを示した。原子炉中性子とγ線の混合照射は,同時に個々のものと比べて劣化増強をもたらし,増幅器におけるイオン化/変位相乗効果を誘起する。デバイスに対する混合照射によって誘起される劣化増強に,大きな注意が払われるべきであり,原子炉運転中に予想外の故障を示し,原子炉制御システムのエージングを加速する。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *イオン化 ,  *原子炉 ,  γ線 ,  *γ線照射 ,  照射損傷 ,  *増幅器 ,  *中性子 ,  信頼性 ,  *演算増幅器 ,  相乗作用 ,  アナログ系 ,  原子炉制御系 ,  テキサス州
準シソーラス用語： バイアス電流 ,  原子炉運転 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 増幅回路  (NC05040U) ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (9件)： 原子炉 ,  中性子 ,  ガンマ線照射 ,  誘起 ,  バイポーラ ,  演算増幅器 ,  イオン化 ,  変位 ,  相乗効果