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J-GLOBAL ID:202102240326084064   整理番号:21A1821842

白色光ベース3D光学ゲージを用いたインプロセス表面測定中の光反射率のキャラクタリゼーション,モデリングおよび解析【JST・京大機械翻訳】

Characterization, Modelling and Analysis of Light Reflectance During In-Process Surface Measurements Using White Light Based 3D Optical Gauge
著者 (4件):
資料名:
号: MSEC2017  ページ: Null  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0478C  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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光反射率モデルの品質は,高分解能電荷結合素子(CCD)カメラによって生成された点の雲の正しさに主に依存する。次元制御関連課題を解決するための革新的方法を提供するOptigo 200ロボットを用いて物体の寸法を捉える実験を行った。統合システムは,実験(DOE)レベルの異なる設計でオブジェクトを測定する点で,高精度で高密度のポイントを集める。また,収集したデータの即時解析を行い,与えられた仕様からの偏差を計算した。そこで,その主要パラメータを用いて物体を可視化することを試みた。本論文では,光露光とカメラ方向の依存性と実世界表面の機能的関係について述べた。7ステップウェッジ(測定対象として)を用いて,ステレオビジョンベースの実験を行う。最後に,比較解析は,従来の測定技術に関するモデル精度を示した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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図形・画像処理一般 

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