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J-GLOBAL ID：202102243797234553   整理番号：21A0199475

アジマス・デルアンプに基づく全開口空中SALデータ処理法のためのサブ開口位相誤差スティッチング【JST・京大機械翻訳】

Sub-aperture phase error stitching for full aperture airborne SAL data processing method based on azimuth deramp

著者 (8件)： Guo Liang (School of Physics and Optoelectronic Engineering, Xidian University. Xi’an 710071, China) ,  Guo Liang (State Key Laboratory of Pulsed Power Laser Technology, National University of Defense Technology, Hefei 230037, China) ,  Yin Hongfei (School of Physics and Optoelectronic Engineering, Xidian University. Xi’an 710071, China) ,  Yang Lichao (The National Key Laboratory of Radar Signal Processing, Xidian University, Xi’an 710071, China) ,  Sun Guangcai (The National Key Laboratory of Radar Signal Processing, Xidian University, Xi’an 710071, China) ,  Xing Mengdao (The National Key Laboratory of Radar Signal Processing, Xidian University, Xi’an 710071, China) ,  Zeng Xiaodong (School of Physics and Optoelectronic Engineering, Xidian University. Xi’an 710071, China) ,  Hu Yihua (State Key Laboratory of Pulsed Power Laser Technology, National University of Defense Technology, Hefei 230037, China)
資料名： Optics & Laser Technology  (Optics & Laser Technology)
巻： 136  ページ： Null  発行年： 2021年 
JST資料番号： D0245B  ISSN： 0030-3992  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 合成開口Ladar(SAL)は合成開口とライダーの組合せである。現在,PGAアルゴリズムによるサブ開口ステッチングを用いてSALイメージングを実現した。しかし,このアルゴリズムはデータ利用率が低く,画像SNRと分解能が悪くなる。この問題を解決するため,方位角デランプに基づく完全開口航空機搭載SALデータ処理のためのサブ開口位相誤差ステッチングの方法を,本論文で提案した。データをサブ開口のシーケンスに分割し,標準最小エントロピーオートフォーカス(MEA)を用いて各サブ開口の位相誤差を推定した。次に,全開口位相誤差を得るために,サブ開口のすべての位相誤差を縫合した。完全開口位相誤差の補償の後,全開口画像を,derampによって得る。サブ開口アルゴリズムによって得たSAL画像と比較して,提案した方式はより良い分解能とSNRを提供できる。最後に,航空機搭載SAL実データの画像結果は,提案したアルゴリズムの有効性を確かめた。Copyright 2021 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  分解能 ,  方位角 ,  *開口 ,  画像処理 ,  *データ処理 ,  有効性 ,  LIDAR
準シソーラス用語： レーザレーダ ,  *位相誤差 ,  航空機搭載 ,  ステッチ溶接 ,  データ処理法 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： SAL ,  エラーステッチング ,  全開口 ,  方位角デランプ ,  MEA

分類 (1件)： 光の散乱,回折,干渉  (BD03030M)

タイトルに関連する用語 (4件)： データ処理法 ,  サブ ,  位相誤差 ,  スティッチング