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J-GLOBAL ID:202102245012420824   整理番号:21A0686854

キログラムを実現するためのシリコン格子パラメータと原子数の測定【JST・京大機械翻訳】

The Measurement of the Silicon Lattice Parameter and the Count of Atoms to Realise the Kilogram
著者 (3件):
資料名:
巻: 35  号:ページ: 511-519  発行年: 2020年 
JST資料番号: W4704A  ISSN: 0970-3950  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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X線干渉法は,metreの原子と巨視的実現の間のリンクを確立した。光学波長の観点からシリコン格子定数を測定する可能性は,原子を計数する方法を開き,先例のない精度でAvogadro定数を決定し,現在,Planck定数からキログラムを実現する。また,それは,X線による位相コントラストイメージングにおける強力なツールであり,原子スケールでの能力を有する線形および角度計測において,光学干渉法と組み合わせた。このレビューは,過去40年間,Istituto Nazionale di Ricerca Metrologyaにおけるこの魅力的な技術の開発の歴史を論ずる。最終的に,国際ユニット(SI)の国際システムの再定義への貢献を強調した。Copyright The Author(s) 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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単位,標準,標準器,定数  ,  質量,密度,比重の計測法・機器 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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