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J-GLOBAL ID：202102250287079661   整理番号：21A0228480

加速寿命試験による耐老化性リング発振器の評価とデジタルセンサへの応用【JST・京大機械翻訳】

On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor

著者 (4件)： Gondo Masayuki (Kyushu Institute of Technology,Fukuoka,Japan,820-8502) ,  Miyake Yousuke (Kyushu Institute of Technology,Fukuoka,Japan,820-8502) ,  Kato Takaaki (Kyushu Institute of Technology,Fukuoka,Japan,820-8502) ,  Kajihara Seiji (Kyushu Institute of Technology,Fukuoka,Japan,820-8502)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： ATS  ページ： 1-6  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ディジタル温度と電圧センサのためのエージング耐性リング発振器(RO)を提案した。本論文では,65nm CMOS技術による試験チップの加速寿命試験によるROの時効耐性の有効性を論じた。ROの遅延劣化の進展を調べ,センサの測定精度に対する遅延劣化の影響を調べた。実験結果は,加齢耐性ROが遅延劣化を緩和することができ,センサの測定誤差を減少できることを示した。エージング不耐性ROから成るセンサと比較して,温度および電圧誤差は,それぞれ,2.5°Cおよび32mV減少した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 時効 ,  電圧 ,  測定誤差 ,  測定精度 ,  ディジタル方式 ,  センサ ,  有効性 ,  *リング発振器 ,  CMOS ,  電圧センサ ,  加速寿命試験
準シソーラス用語： 加速劣化試験 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 加速寿命試験 ,  耐老化性 ,  リング発振器 ,  評価 ,  デジタル ,  応用