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J-GLOBAL ID：202102250518490634   整理番号：21A3275982

Hブリッジ電力セルのための開回路故障の時間領域特性評価と検出【JST・京大機械翻訳】

Time-Domain Characterization and Detection of Open-Circuit Faults for the H-Bridge Power Cell

著者 (1件)： Kumar Mayank (Department of Electrical Engineering, Delhi Technological University, New Delhi, India)
資料名： IEEE Transactions on Power Electronics  (IEEE Transactions on Power Electronics)
巻： 37  号： 2  ページ： 2152-2164  発行年： 2022年 
JST資料番号： D0211B  ISSN： 0885-8993  CODEN： ITPEE8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,Hブリッジパワーセルに開放された,健全なダイオードとスイッチ型ダイオードペアを有する開放スイッチのような半導体開回路スイッチ故障(OCSF)の時間領域特性評価を提示する。健康なダイオードによる斜めに逆の開放スイッチ故障条件の下でのインバータ故障シグネチャは,ほぼ同じである。したがって,本論文では,Hブリッジ電力セル内の各故障スイッチのユニークな同定による検出アルゴリズムを提案した。提案したアルゴリズムも,複数のOCSFを検出し,同定するために設計した。スイッチ故障の同定のために半導体スイッチの非理想特性を考察した。よく知られた単極正弦波パルス幅変調技術を単一電力セルのための半導体デバイスのスイッチングに用いた。また,二重Fourier積分解とスイッチング状態を用いたスイッチ故障の影響を見出すために数学的表現を導いた。理想的なスイッチング条件下でスイッチ出力電圧波形に対する解析式を開発した。スイッチ故障の挙動を,パルス幅変調インバータ出力電圧のインバータ出力電圧,負荷電流,および全高調波歪を用いて解析した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  ダイオード ,  半導体 ,  半導体素子 ,  *故障 ,  *電力 ,  PWM【信号】 ,  *開路
準シソーラス用語： 電圧波形 ,  負荷電流 ,  半導体スイッチ ,  *時間領域 ,  出力電圧 ,  正弦波パルス幅変調 ,  全高調波歪 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電力変換器  (NB08030B)

タイトルに関連する用語 (6件)： ブリッジ ,  セル ,  開回路 ,  故障 ,  時間領域 ,  特性評価